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CMI 243CMI 200系列CMI 243膜厚儀的詳細資料：
CMI 243是一款專門為測量磁性金屬基材上的鋅、鎳、鉻、鎘等鍍層厚度而設計的便攜式膜厚儀。*的渦電流測試方法使測量更精確。配置的測量探頭對細小的零件也可以精確測量。它具有X射線熒光的測量精度，同時也避免了庫侖法對被測工件帶來的破壞。CMI 243在設計上更加合理、可靠、實用。
●ECP-M探頭：鋅、鎳、鉻、鎘均可以測量
●準確度：±1%
●測量范圍：0.08-1.50mils（2-38μm）
●分辨率：0.01mils （0.1μm）
●適用標準：符合ASTM B244—b259， DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168（DRAFT）, 以及BS 5411 part 3
●單位：英制和公制單位自動轉換
●統計數據顯示：讀取次數，平均值，標準差，zui高值，zui低值，zui終值
●記憶儲存：12,400個數據儲存
●接口：RS-232串行端口，波特率可調，可接打印機或計算機
●顯示：液晶顯示（LCD）,字符高度1/2” （1.27cm）
●電池：9V干電池或可充電電池。
●尺寸：57/8” （L）×31/8” （W）×13/16” （D） （14.9×7.94×3.02 cm）
●重量：9盎司/0.26kg, （包括電池重量在內）
●品牌及產地：英國牛津儀器；產地：美國
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鄭由軍
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